膠體粒子1um的石墨粉末的粒度散布的測(cè)定，有兩種電子顯微鏡和重力沉降。電子經(jīng)過(guò)顯微鏡法的長(zhǎng)處是除了咱們能夠進(jìn)行測(cè)定不同粒度數(shù)據(jù)散布外，也能知道一個(gè)粒子的形狀。
        一般企業(yè)選用—萬(wàn)倍的電子品微照像，測(cè)定石墨粉粒子頻數(shù)散布。重力沉降法丈量設(shè)備為超速離心機(jī)。超離心機(jī)以相當(dāng)于1萬(wàn)倍重力的強(qiáng)大離心力（一般試驗(yàn)室離心機(jī)最大離心力僅為2千倍東力）丈量膠體石墨粉末的粒徑散布。現(xiàn)在，對(duì)大于 lpm的石墨粉的粒度測(cè)定主要選用沉降法。
    首先，粉體試驗(yàn)，資料在純水懸浮渙散，并加入渙散劑，以避免顆粒集合。膠狀石墨然后被稀釋成0.05% 濃度的漿狀物。粒徑由重力沉降平衡決議。重力沉降比重秤是一種帶有粒度散布主動(dòng)記錄設(shè)備的主動(dòng)丈量?jī)x器。該儀器能夠丈量樣品的粒度散布曲線。對(duì)于一個(gè)小于lum的石墨粉微粒子，選用光能夠透過(guò)法粒度進(jìn)行主動(dòng)分析測(cè)定試驗(yàn)設(shè)備。
     光透過(guò)法是在粉體沉降所發(fā)生細(xì)胞懸浮液經(jīng)過(guò)濃度的變化發(fā)展過(guò)程中，將光束射入，由粉體的光遮斷量，間接地測(cè)粒度數(shù)據(jù)散布。選用間接法，使操作相關(guān)手續(xù)時(shí)刻大大得到簡(jiǎn)化。在微粉測(cè)定研究過(guò)程中，最大的問(wèn)題是每個(gè)粒子的凝集。因而，用光透過(guò)法測(cè)定微粉粒度時(shí)，抱負(fù)的濃度是做成含石墨粉0.05 %的低濃度懸浮液，并加入一些適量的渙散劑能夠使其愈加渙散。